劣化量が増加し，その部品を使用してはいけない規定値に達したとする．使用開始
(ｔ＝０）して、この使用してはいけない状態に至るまでの時間をｔ＝Lとすると、
Lをその部品の寿命という。いま寿命と定義される劣化量の規定値をｘspとする。
式(２.３）より寿命Lは、
で与えられる。式(２.６)に式(２.１)のKを代入して両辺の自然対数をとれば
を得る。式(２.７)をグラフにしたものが図２.１(a)である。同図より、自然対数でとった
寿命は熱ストレスの逆数に比例し直線的に増加する。
ストレスが高ければ高いほど劣化が速く寿命が短くなる。この関係をArrheniusの関係という。
また熱以外のストレスSが増加すればαlnSに比例して寿命が短縮されることがわかる。
縦軸にｌｎL、横軸にｌｎSをとり、式(２.７）をグラフで表すと図２．１(b)のようになる。
寿命の状態と定義される劣化量ｘspの値を小さくとり、これをｘｌ，このときの時刻をLｌ
とし、使用条件より厳しい幾つかの熱ストレス（高温での使用)、同じように厳しいその他
のストレスのもとで部品を実験的に使用し、図２．１(a)、（b）のようなグラフ
（縦軸lnLｌ）を作成する。
図２．１(a）に対応するグラフの傾きより式(２.１)の定数B、図２．１(b）に対応するグラフの
傾きより定数αが推定できる。またφ(ｘｌ、ｘ０）の値がわかっていることより、上で推定
されたB、αを利用し
の関係からΛの値も推定できる。このようにして推定された係数を式(２.７）
〔あるいは式(２.６）のK〕に代入し、通常使用における熱ストレス、その他の
ストレス、寿命と定義される劣化量を同式に代入することで、その部品の通常
ストレス下での寿命を予測することができる。
式(２.７)の係数B、α、Λの推定に当たり、実験は通常の使用時のストレスに
比してはるかに厳しい状態で行われる。すなわち高温、高ストレスで実験は
行われる。さらに寿命と定義される劣化量の値ｘｓpより低いｘｌを仮の寿命状態に
ある劣化量としており、通常の状態で部品を使用する場合よりもはるかに短時間
で寿命期に至る。通常ストレス時の寿命、劣化速度、熱ストレス、その他のストレス
に添字ｒを付けてそれぞれLｒ、Kr、Tr、Sr、実験ストレスの場合には添字なしで
それぞれL、K、T、Sとすると、寿命が短縮される度合いALは、
となる。この係数は寿命加速係数と呼ばれている。電子部品や絶縁材料では
BはほぼB＝３.4×１０³～５.７×１０³Kであり、室温から１０°C上げるごとに１/２～
１/１．５に寿命が縮まる。コンデンサでストレスSを直流電圧とするとα＝５、電球の
場合でα＝１３、鋼材の破壊の場合α＝３～４である。
